품목분류사례
Spectrometer; Automated wafer profiling system;For wafer analysis
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이미지 준비중물품설명
기능 및 용도 : 적외선을 반도체 웨이퍼 위에 주사하여 광흡광도, 투과도에 의해 웨이퍼상의 증착된 막의 두께와 성분을 측정함 구성기기별 세부기능 - Optical Bench : 적외선의 보강.상쇄.간섭 원리에 의한 측정 정보를 디지털 신호로 변환하여 컴퓨터에 전송 - Computer : Optical Bench에서 전송받은 정보를 저장.분석.출력해주는 기능을 함. .586펜티엄,32M RAM, 1GA HDD, 키보드, 마우스,모니터 .Bench Interface Card - 기 타 : 구동 소프트웨어 CD, 프린터
결정이유
ㅇ 쟁점물품은 크게 측정부분(Optical Bench)과 측정자료를 분석하고 출력하는 컴퓨터 부분으로 구분이 되며, 부가적으로 소프트웨어와 프린터가 함께 수입됨. ㅇ 90류 주3(Functional Unit)의 규정에 의거 쟁점물품이 측정기로 기능을 하기 위해서는 Optical Bench와 Computer가 반드시 있어야 하며, 84류 주 5 "마"의 규정에 의거『자동자료처리기계와 결합 또는 연결되어 자료처리외의 특수기능을 수행하는 것은 기능수행 해당호에 분류』토록 규정하고 있으므로 9027.30-1000호에 함께 분류하여야 함. ㅇ 다만, 소프트웨어는 85류 주 6의 규정에 의거 8524.31-1000호에, 프린터는 90류 주 3의 규정에 의거 Functional Unit의 필수 구성요소로 볼 수 없으므로 8471.60-20호에 분류하여야 함.