품목분류사례
Measuring or Checking instrument, appliance and machines not specified or include elsewhere in this Chapter ; Wafer Analysis Instrument ; RS75/TC(OmniMap RS75)
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이미지 준비중물품설명
ㅇ 웨이퍼표면에 이온을 주입하여 열처리 후 웨이퍼 표면에 주입된 이온의 농도를 분석하여 Mapping으로 표시하거나 그래프로 나타내어 웨이퍼의 안정화를 분석하는 장치로 4개의 Prober를 이용하여 면저항값(Rs)을 측정, 측정된 면저항값을 기준으로 유전율을 이용하여 웨이퍼 표면의 면저항에 따른 이온농도를 산...
결정이유
ㅇ 제9027.80-20호는 점도·포로서티·팽창·표면장력 등의 측정 또는 검사용의 기기는 점도 등은 물질 또는 재료가 갖고 있는 고유의 물리적 특성을 측정하는 기기이나, 본 장비는 웨이퍼 표면의 이온 및 metal의 박막특성(두께)를 측정하는 것으로 이는 재료가 갖고 있는 고유의 물리적 특성을 측정하는 것으로...