Thermonics T-2500E

테스터헤드에 테스트하고자 하는 반도체등의 디바이스를 탑재하고 가열 또는 냉각된 공기를 불어 넣어줌으로써 테스트가 이루어지며 -80~+200의 온도변화(Temperature cycling)이 가능하고 테스트 중인 반도체 등의 디바이스와 주변의 온도를 측정할 수 있도록 온도 센서인 termocouple가 2개 장착되어 있는 물품으로 반도체디바이스, 기타 부품, 소형조립물품 등에 열충격(hot and cold temperature testing)을 가하여 해당부품 및 제품의 열적내구력 등을 측정하기 위해 사용되는 제품으로 측정, 검사기능은 별도의 테스트 목적에 따른 기기를 구성하여 사용되는 제품으로 가열(히터를 통하여 공급), 냉각(냉동기를 통하여 공급)기능은 당해 제품의 위에 부착된 테스트헤드에서 이루어지며 하단부의 전면제어패널에는 온도를 세팅할 수 있도록 되어 있음

쟁점물품은 측정, 검사기능을 구성하지 않는 기기로 제9024호 내지 제9031호 의 측정 및 검사용의 기기로 분류할 수 없음{제16부총설해설서(Ⅸ)"제90류의 측정용 또는 검사용의 기기를 구성하지 않는 한 제84류 또는 제 85류에 분류된다"} 관세율표해석에 관한 통칙 1에는 법적인 목적상의 품목분류는 각부각류각번호의 용어 및 관련 부 또는 주의 주에 의하여 결정한다고 규정하고 있는 바, 제8419호 의 용어는 기타 온도변화에 의한 방법으로 재료를 처리하는 기계, 설비 또는 장치(전기가열식 및 이화학용의 것을 포함하며 일반적으로 가정용으로 사용하는 것을 제외한다)가 관련 호의 용어로 제84류주2라에 제8419호 에서 제외되는 물품으로 방직용섬유사,직물류 또는 그제품의 열처리용기계( 제8451호 )는 제외하도록 하고 있으나, 본 품의 처리대상 재료에 있어 반도체디바이스, 인쇄회로기판, 기타 전자제품(핸드폰등)으로 본 주규정에 위반되지 않고 제84류주2마에 온도의 변화가 당해기계의 작동에 있어 종속적인 기능은 제외하도록 하고 있으나, 본 품은 제어판넬부에 온도세팅장치가 되어 있어 온도에 따른 열충격을 가할 수 있도록 설계제작되어 있어 온도변화의 기능이주기능인 것이므로 제84류주2의 단서규정에 저촉되지 않음 본 물품은 전기를 동력원으로 에어를 가열 또는 냉각시켜 재료를 가열 또는 냉각공정에 놓도록 제작된 기기로 제8419호 해설서"이 호에는 단순히 온도의 변화만을 일으키게 하기 위하여 또는 온도의 변화의 결과로 재료가 변형되도록 하기 위하여 재료를 가열 또는 냉각공정에 놓도록 제작된 기계와 설비가 포함된다" 따라서, 본 품은 가정용이 아닌 기기로 전기를 그 동력원으로 하여 재료를 가열 또는 냉각공정에 놓도록 제작된 기기로 통칙1및 통칙6에 따라 HSK8419.89-9090호에 분류한다.