Wafer test system ; WTS-311, WTS-311L

ㅇ 구성요소 본체, 테스터헤드, 컴퓨터로 구성 ㅇ 주요기능 및 용도 - CCD, CIS, LTPS, 유기EL 등의 용도로 생산되어지는 wafer에 signal(전 압)을 인가한 후 wafer에서 출력되는 전기의 양(전압)을 측정하여 wafer의 양품, 불량품 등을 판정하는 장비임

ㅇ 본 품은 CCD, CIS, LTPS, 유기EL 등의 용도로 생산되어지는 wafer에 signal(전압)을 인가한 후 wafer에서 출력되는 전기의 양(전압)을 측정하 여 wafer의 양품, 불량품 등을 판정하는 장비임 ㅇ 제9030호 에는 “기타의 전기적 량의 측정 또는 검사용의 기기”가 분류 되며, 제9030.82소호에는 “반도체웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 것” 이 분류됨 ㅇ ITA(Information Technology Agreement :정보기술협정) Attachment A Section 2에「반도체 웨이퍼 또는 소자를 측정 또는 검사하는 기기 (Instrument and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices)」가 게기되어 있고 아국에서는 이를 수용하여 HSK9030.82-0000호로 양허하였음 ㅇ 본 물품은 wafer상에 전압을 인가하여 출력되는 전기적량으로서 wafer 의 양, 불량품을 판정하는 반도체 소자용 검사장비 이므로 HSK9030.82-0000 에 분류한다