품목분류사례
PDP DRIVE IC TESTER ; S230
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이미지 준비중물품설명
ㅇ 기능 및 용도
PDP Drive IC로 사용되어지는 Wafer(Chip) 또는 Package IC(Chip)의 전
기적 특성검사를 실시하여 양, 불량을 선별하여 주는 장비
ㅇ 구성요소 및 구성요소별 기능
① MAIN SYSTEM : MAIN SYSTEM에 저장되어 있는 프로그램에 의해 정해
진 전기적 신호값(교류/직류 성분의 전압/전류)을 TEST 부품인
Wafer/Package IC로 보내어 돌아오는 값(전기량)을 측정하는 곳
② Test Head : 메인시스템에서 흘려보낸 전기적 신호값을 Test 하고자
하는 IC와 Contact할 수 있도록 하는 곳
③ Terminal : 메인시스템에서 처리할 전기적 측정값을 입력하고 측정
한 값을 출력하는 곳
결정이유
ㅇ 본 품은 PDP Drive IC로 사용되어지는 Wafer(Chip) 또는 Package IC (Chip)의 전기적 특성검사를 실시하여 양, 불량을 선별하여 주는 장비로서 MAIN SYSTEM, Test Head, Terminal로 구성되어 있으며 ㅇ 측정원리는 Terminal에서 처리할 전기적 측정값을 MAIN SYSTEM으로 보 내고 MAIN SYSTEM에 저장되어 있는 프로그램에 의해 정해진 전기적 신호값 (교류/직류 성분의 전압/전류)을 Test Head에 있는 Wafer/Package IC로 보 내어 돌아오는 값(전기량)을 측정함 ㅇ 제9030호 에는 “기타의 전기적 량의 측정 또는 검사용 기기”가 분류되 며, 제9030.82소호에는 “반도체웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 것”이 분류되며 ㅇ ITA(Information Technology Agreement : 정보기술협정) Attachent A Section 2에 「반도체 웨이퍼 또는 소자를 측정 또는 검사하는 기기 (Instrument and apparatus for measuring or checking semiconductor wafers or devices)」가 게기되어 있고 아국에서는 이를 수용하여 HSK9030.82-0000호로 양허 하였음 ㅇ 제90류 주3 “제16부 주4(Functional Unit)의 규정은 이 류에도 적용한 다” 라고 규정하고 있으므로 MAIN SYSTEM, Test Head, Terminal은 함께 분 류함 ㅇ 따라서 본 물품은 wafer상에 전압을 인가하여 출력되는 전기적량으로 서 wafer의 양, 불량을 판정하는 반도체 소자용 검사장비 이므르 HSK9030.82-0000에 분류한다