Micro Component Inspection System(전자부품외관검사장치) : MCIS-1800

ㅇ 기능 및 검사과정 - 진동피더를 사용하여 회전하는 글라스테이블위로 제품공급 - CCD이미지 획득 : 회전테이블 위를 돌고 있는 제품의 4 혹은 6면의 이 미지 획득 - 영상처리 : 자체검사 소프트웨어 알고리즘을 이용하여 결함(길이, 폭, 두께, Body Defects, Solder Defects 등)을 검출하고 양품과 불량품 자동 선별 - 불량으로 판정된 제품을 공압을 이용하여 배출 ㅇ 검사대상 및 용도 - MLCC(적층세라믹콘덴서), Bare-chip, Varistor, Thermister, PTC, Inductor 등의 외관(4면 또는 6면)이미지를 CCD카메라찍고 소프트웨어알고 리즘을 이용하여 양·불량품을 선별

ㅇ 이미지를 카메라로 촬영하여 외관의 상태를 측정, 검사하는 것은 빛의 량의 측정·검사나 분석기능이 아니므로 제9027호 에 분류될 수 없고 - 관세율표 제90류 주5에 “ 제9013호 및 제9031호 에 동시에 분류될 수 있 는 광학식의 측정용·검사용기기는 제9031호 에 분류한다.”고 규정하고 있 음. ㅇ 관세율표해설서 제9031호 에는 “기타의 측정 또는 검사용기기”가 분류 되며, 제9031.4호에는 “기타 광학식의 기기”가 분류됨 ㅇ 동해설서 (Ⅰ)측정용 또는 검사용 기기 (A)에서 - (27) 빔의감쇠, 반사법에 의하여 결함을 측정하는 결함검출장비 등 물 품의 외관을 측정 검사하는 기기를 예시하고 있으며 - (B)에서 “이호에는 광학식 측정 및 검사기구도 포함한다”고 해설하면 서 (6) 윤곽 및 표면의 상태를 사진으로 기록 측정하는 장치 등 빛을 이용 한 물품의 외관을 측정 검사하는 기기를 예시하고 있음. ㅇ 쟁점물품이 측정 또는 검사할 수 있는 대상은 반도체웨이퍼, 반도체소 자, 포토마스크 및 레티클만이 아니라 다른 전자부품 등의 결함도 검사할 수 있기 때문에 제9031.41소호가 아닌 제9031.49소호에 분류되어야 하며 - 제9031.49소호 주에 “사람의 시력에 직접 도움을 주거나 또는 시력을 향상시키는 기기뿐만 아니라 광학적인 요소의 사용 또는 과정을 통해 기능 하는 기타 기기도 분류한다”고 규정하고 있으므로 기타 광학식의 측정 또 는 검사용기기로 HSK9031.49-9090호에 분류한다.