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품목분류사례

Aerial Image Measurement System ; AIMS FAB 193 Second Generation

품목번호9031.41-9000
구분품목분류사례
품목분류과-105701 (시행일자: 2005-10-13)
품명Aerial Image Measurement System ; AIMS FAB 193 Second Generation
결정기관관세평가분류원
문서번호0072005873720

이미지

이미지 준비중

물품설명

ㅇ 구성요소 및 구성요소별 기능 ① CCD : Emulation된 이미지 Capture ② Bertrand optics : 장비의 Optic을 정렬하기 위해 사용되어지는 렌즈 ③ Laser : Laser를 발생하여 광원으로 사용 ④ Homogenizer : Laser에서 나온 광원을 Optic 전체 field에 균일하게 조사 ⑤ Condenser lens : 조명을 일정한 초점지역으로 집광 시켜주는 렌즈 ㅇ 기능 및 용도 - 반도체 Mask Inspection장치에서 확인된 Mask의 불량유무와 불량위치 등의 data를 전송받아 불량이 발생한 부분의 aerial image(웨이퍼상에 직 접 형성된 이미지가 아닌 가상이미지)를 통하여 웨이퍼에 프린터하기 전에 결과를 예측하여 pattern의 불량상태를 검사(repair된 마스크 포함)

결정이유

ㅇ 제9031.41소호는 기타의 광학식의 측정 또는 검사용의 기기로서 반도 체웨이퍼 및 소자 검사용 또는 반도체 소자 제조에 사용되는 포토마스크 또 는 레티클을 검사하는 기기가 분류됨 ㅇ 따라서 본 물품은 레이저를 광원으로 CCD와 렌즈를 통하여 마스크의 불 량상태를 검사하는 장비이므로 기타의 광학식의 반도체 소자 제조에 사용되 는 포토마스크를 검사하는 기기로 보아 HSK9031.41-9000에 분류 6>

등록정보

2005-10-13

출처

관세청 CLIP 품목분류사례 원본 보기 · 문서번호 0072005873720
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