품목분류사례
Image Sensor Test system ; IP750EMP
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이미지 준비중물품설명
ㅇ 구성요소 및 기능
① Pattern Generator : Chip에 인가할 전기적 신호를 생성하는 장치
② Power Supply : 본체에서 사용할 전원을 공급하는 장치
③ Signal Converter : Chip에서 나오는 전기적 신호를 D/A 또는 A/D신
호로 변환
④ Memory Board : 변환된 신호를 저장
⑤ Control PC : 본체를 제어
ㅇ 기능 및 용도
- Image Sensor역할을 하는 반도체 die(웨이퍼상태)를 전기적 특성 검사
를 실시하여 양, 불량을 검사하는 장비
ㅇ 동작원리
- 사용자가 Chip(웨이퍼)에 맞는 신호를 컴퓨터를 이용하여 입력
- 입력된 신호가 Pattern Generator를 통해 Die(웨이퍼)에 전달
- Die(웨이퍼)에 출력되는 신호를 Signal Converter로 test하기 위한 신
호로 변환
- 기준값과 비교하여 양, 불량을 판정
결정이유
ㅇ 관세율표 제9030호 는 전기적량의 측정 또는 검사용의 기기가 분류되며, 제9030.82-0000에 “반도체 웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 것” 이 분류됨 ㅇ 따라서 본 물품은 Image Sensor역할을 하는 반도체 die(웨이퍼상태)에 대하여 전기적 특성 검사를 실시하여 양, 불량을 검사하는 기기이므로 반도 체웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 기기로 보아 HSK9030.82-0000에 분류