품목분류사례
Burn-In Test System(고온동작 테스트 시스템) ; ABES-V
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이미지 준비중물품설명
ㅇ 기능 및 용도
- 고온 조건 하에서 IC에 전압 등을 인가하여 IC를 구동시켜 전기적량의 측
정과 고온에서 구동시 제품의 수명을 테스트하는 장비
* 생산 중인 IC가 각종 전자장비에 부착되어 사용 시 전자장비의 구동으로
인해 발생되는 열에 의한 불량을 줄이기 위해 제품의 신뢰성을 평가
ㅇ 주요 구성요소 및 기능
- Burn-In Oven : 측정하고자 하는 IC에 고온의 Stress를 주기 위해 열을
만드는 오븐
- Driver Card : 고온의 Stress하에서 IC에 일정한 전압을 발생하는 역할
- Burn-In Board : Socket을 포함하고 있으며 Driver Card로부터 얻은 전압
을 IC에 전달하는 일종의 Interface Board
결정이유
ㅇ 관세율표 제9030호 에는 “기타 전기적 량의 측정 또는 검사용의 기기” 를 규정하고 있고, - 제9030.82소호에는 “반도체웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사용의 것” 을 분류하도록 규정하고 있음 ㅇ 본 물품은 고온 조건 하에서 IC에 전압 등을 인가하여 IC의 전기적량 측 정을 통해 제품의 수명을 테스트하는 장비로 반도체웨이퍼 또는 소자의 전 기적 량을 검사하는 기기에 해당 ㅇ 따라서 통칙1의 규정에 의거 반도체웨이퍼 또는 소자의 측정 또는 검사 용 기기(9030.82-0000)로 분류