품목분류사례
Parts for measuring or checking semiconductor wafers or devices; A Plate; JAPAN
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물품설명
반도체 웨이퍼를 검사할 때 사용하는 EDS Tester를 구성하는 검사기기 중 Probe card 하단부에 결합 되어지는 A'ssy로서 Ceremic 재질의 원형판상에 미세 하게 홀 가공 되어 있는 물품 - 용도 : Probe Card와 Wafer에 전기적 신호를 전달해주는 Probe Tip의 고정 및 Gui...