품목분류사례
695PIPSⅡ(Precision Ion Polishing System Ⅱ); 495×575×615㎜; U.S.A
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이미지 준비중물품설명
투과전자현미경(TEM)의 시편 준비를 위한 전처리 장치로써 이온 건을 통해 아르곤 이온을 생성하고 동 이온빔이 시편에 부딪혀 시료가 깍여 나감으로써 시료의 단면을 원하는 두께(nm 단위)로 가공하는 기기
결정이유
- 관세율표 제16부 총설 “(IX) 이화학적으로 사용되는 기기”에서는 “이 부에 해당하는 기기는 실험실에서 사용하도록 또는 화학용 및 측정용의 기기와 관련하여 사용하도록 특별히 제작된 것이라 할지라도 제9023호의 공업용이 아닌 전시용의 기기 또는 제90류의 측정용 또는 검사용의 기기를 구성하지 않는 한 이...