위원회결정사항
Structures ; Anti-Vibration System for Nano Prober(N-6000) ;; JP
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이미지 준비중물품설명
- 반도체 웨이퍼상에 형성된 칩의 전기적 특성을 측정하는 장비인 Nano Prober N-6000 저부에 설치하여 바닥에서 장비로 유입되는 진동을 효율적으로 흡수하여 제거함으로써, 반도체 칩의 전기적 특성에 대한 정밀 측정을 위해 주문 제작된 장비로 지면을 파서 시공하여 설치하는 것이 바람직하나, 이미 장치가...
결정이유
- 웨이퍼상에 형성된 반도체 칩의 전기적 특성을 측정하는 Nano-Prober 6000 장비와 관련하여, 미세한 외부 진동방지를 위해 설계된 것으로 설치구조상 이러한 물품은 콘크리트 바닥면을 시공해서 설치하는 것이 바람직한 방식이나 - 이미 장치가 설치된 경우에는 지면작업이 불가능하므로 본건 물품을 기계 저부...