품목분류사례
Micro Crack Inspection System [Micro Crack 100 Inspection System(Off-line handling system)]
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이미지 준비중물품설명
□ 물품 개요 ○ 태양광 발전을 위한 모듈의 재료로써 얇게 slicing한 Silicon Wafer의 표 면특성을 측정하는 장비로써, ○ 주요한 구성요소로 가시광선 영역의 빛을 방출하는 광원, 이를 검출하는 CCD 카메라, 화면상의 Wafer 표면의 결과 및 측정값을 도출하는 Software 가 내장된 PC ...
결정이유
○ 관세율표 해설서 제8486호에는 “반도체 웨이퍼를 측정(measuring), 검사 (checking, inspecting), 화학분석(chemical analysis) 등의 기계와 기기는 제외한다(제90류)”라고 해설하고 있으며, ○ 관세율표 제9031호는 “기타의 측정 또는 검사용의 기기(이 류의 다른 ...