위원회결정사항
Probe station ; PRECIO
이미지
이미지 준비중물품설명
ㅇ 물품개요 - EDS Tester system(wafer상태에서 각 chip의 전기적인 특성검사를 실시하여 양/불량을 선별)은 Tester(본체), Probe Card, Probe Station으로 구성되는데 이 중에서 Probe Station만 제시됨 - Tester본체와 연결하여 카셋트에서 웨이퍼를 Lo...
결정이유
ㅇ 제84류 주9다에서 보울, 웨이퍼, 반도체디바이스 전자집적회로와 평판디스플레이의 권양(lifting), 하역(handling), 적하(loading), 또는 양하(unloading)용 기계에 전용 또는 주로 사용하는 기계를 제8486호에 분류토록 규정하고 있으며 - “반도체소자 제조용 웨이퍼, 웨이퍼 카셋...