Semiconductor Characterization System ;; 4200-SCS/F

ㅇ 반도체 웨이퍼 및 디바이스의 전기적 특성을 측정하는 장비로 전압/전류/펄스 등을 인가하고 출력된 응답 전기신호를 프로브 스테이션으로부터 전달받아 전류, 전압값을 측정 - 필요에 따라 측정된 전류, 전압값을 운영 프로그램내의 함수식에 대입하여 원하는 결과값을 계산할 수 있고, 도출 결과를 그래프 등 시각적으...