품목분류사례
EBSD (Electron Backscatter Diffraction Analysis 후방산란회절 검출기) : CRYSTALIGN EBSD SYSTEM
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물품설명
○ 본건 물품은 SEM(Scanning Electron Microscope : 주사전자현미경)의 Chamber(시료대가 들어있는 진공상태의 방) 부위에 EBSD Detector를 장착하여 사용되며, SEM에서 조사된 전자빔이 시료표면의 격자면들과 만나 후방산란된 전자의 회절빔이 EBSD Detector의 형광...