품목분류사례
MICROSCOPE ; L200N ; For ∅200mm wafer
이미지
물품설명
- 주요 특성 ·반도체 웨이퍼 및 다이의 표면을 관찰하여 불량을 검출하는 데 사용하는 광학식 현미경 ·반사·편광·자외선·암시야 방식으로 샘플을 관찰 ·현미경 본체만 제시되었으며, 별도의 디지털 카메라가 부착되지 않음. (수입 후 국내에서 디지털 카메라와 PC를 연결하여 사용) ·또한, 반도체 웨이퍼나 레티클의...
결정이유
- 관세율표 제9011호에 “광학현미경(마이크로 사진용ㆍ마이크로 영화촬영용ㆍ마이크로 영사용을 포함한다)”을 규정함. ·같은 호 해설서에 “이 호의 광학현미경은 이미 확대된 물체의 상을 관찰하기 위하여 다시 제2단계의 확대를 행하는 기구가 갖추어져 있다. 광학현미경(compound optical mircosco...