품목분류사례
Instruments for detecting faults cracks or other defects ; Inspection System ; UHR2000
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이미지 준비중물품설명
ㅇ 반도체소자의 결함상태를 검사하는 장비로 초음파발생/수신기(금도금층과 진동자로 구성), 시편대, 필요한 신호를 선별하는 Trigger System, A/D Converter로 구성된 것으로 칩이 들뜨는 현상(Delamination), 내부의 구멍(Package Void), 내부균열(Internal Crack...
결정이유
ㅇ 본 기기는 초음파를 이용하여 반도체 부품의 들뜸(Delamination(Compound와 칩이 들뜨는 현상)), 내부의 구멍(Package void), 내부의 파손(Internal Crack) 등의 반도체소자 내부의 각종 결함상태를 검사하는 장비로, 초음파를 발생, 반사된 초음파신호를 전압으로 변환, 이를...