품목분류사례
VCPC NEEDLE
이미지
이미지 준비중물품설명
- IC(반도체집적회로)제조의 Wafer검사공정에 있어서 고속의 전기신호를 보내 양불량을 판단하는데 사용되는 Contact기기인 Probe Card의 부분품으로서 Wafer검사시 IC각각의 전극(Bonding Pad)에 접촉시켜 Interface적인 역할을 하는 텅스텐 재질의 needle(Probe,⑨해당부분...
결정이유
? 본 물품이 장착되는 Probe Card는 반도체웨이퍼 측정용의 기기의 부분품으로 제9030.90소호에 분류되는 물품이며, ? 동 물품과 관련하여 적용규정을 살펴보면, - 제90류 주1에서 동물품에 대한 적용 배제 규정이 없고, - 주2나에서 특정한 기기에 전용 또는 주로 사용되는 부분품은 당해기기와 함께 ...