품목분류사례
Device Test Interface System ; For Test System(T5365, T5581, T5382, T5585, T5371, J996)
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이미지 준비중물품설명
ㅇ Package화된 IC 등의 전기적 특성을 검사하기 위한 Tester 시스템(Tester+Tester Head+DTIS+Handler)중 일부분을 구성하는 물품임 - Test Socket이 부착되어 있으며, 동 Socket에 IC 등의 Lead를 Contact시켜 Tester에서 인가되는 신호를 전달하고 ...
결정이유
ㅇ 본 물품은 테스트시 Tester Head상에 위치하여 테스트 장비와 IC 등을 전기적으로 연결시켜 주는 Interface로서 반도체 소자의 측정용 기기를 함께 구성하도록 특별히 설계제작된 물품이므로 제90류주2나의 규정에 의거 HSK9030.90-9010호에 분류한다.