품목분류사례
Device Test Interface System ; For Test System(T5365, T5581, T5382, T5585, T5371, J996)
이미지
이미지 준비중물품설명
ㅇ 기능 및 용도 - Package화된 IC 등의 전기적 특성을 검사하기 위한 Tester 시스템(Tester+Tester Head+DTIS+Handler)중 일부분을 구성하는 물품임 - Test Socket이 부착되어 있으며, 동 Socket에 IC 등의 Lead를 Contact시켜 Tester에서 인가되는...
결정이유
ㅇ 본 물품은 기존에 제9030호로 분류결정된 바 있는 “Probe Card”의 기능과 유사한 기능을 수행하는 것임 - 다수의 Socket에 삽입된 IC 등(테스트 대상물품)에 대하여 Tester에서 나오는 신호를 전달하고 그 반응신호를 Tester에 다시 보내주는 역할을 수행하는 것으로, - 다만, “Pro...