| 9031 | | | 그 밖의 측정용이나 검사용 기기(이 류에 따로 분류되지 않은 것으로 한정한다)와 윤곽 투영기 |
| | 10 | 0000 | 균형시험기 |
| | 20 | 0000 | 테스트벤치(test bench) |
| | 4 | | 그 밖의 광학식 기기 |
| | 41 | | 반도체 웨이퍼와 소자(집적회로를 포함한다) 검사용이나 반도체 소자(집적회로를 포함한다) 제조에 사용되는 포토마스크(photomask)나 레티클(reticle) 검사용 |
| | | 2000 | 반도체웨이퍼 표면의 파티클 오염상태 측정용 |
| | | 9000 | 기타 |
| | 49 | | 기타 |
| | | 1000 | 광학식 표면 테스터 |
| | | 4000 | 윤곽투영기 |
| | | 10 | 반도체 제조공정의 것 |
| | | 90 | 기타 |
| | | 9000 | 기타 |
| | 80 | | 그 밖의 기기 |
| | | 2000 | 로드셀 |
| | | 9000 | 기타 |
| | | 10 | 내연기관 특성 시험기 |
| | | 20 | 기어 테스터 |
| | | 60 | 초음파 두께 측정기 |
| | | 70 | 흠ㆍ균열 등 측정기 |
| | | 80 | 동력시험기 |
| | | 90 | 기타 |
| | | 91 | 반도체 제조용 |
| | | 99 | 기타 |
| | 90 | | 부분품과 부속품 |
| | | 1000 | 반도체 제조용[반도체 웨이퍼와 소자 검사용이나 반도체 소자 제조에 사용되는 포토마스크(photomask)나 레티클(reticle) 검사용의 것을 포함한다] |
| | | 10 | 소호 제9031.41호의 것 |
| | | 90 | 기타 |
| | | 9000 | 기타 |
